FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設(shè)計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的最合適的測量儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237型則配備了馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。